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TEST

Wafer Test는 LCD Driver IC 전용 Tester를 이용해서 Wafer상의 전체 Chip을 Probing하여 Device의 기능이나 성능이 설계 Spec과 일치하는가를 확인하는 공정으로 O/S Check 및 Function 동작 여부 등에 대해 전반적으로 Test를 실시하여 Pass/Fail을 판별한다
이 과정에서는 양품(Good die)만을 선별하게 되는데 불량품은 Chip 표면에 Ink Dotting등을 하여 후속 Assembly 공정 시 제외되도록 한다.
이 공정은 Auto-Wafer Prober를 이용하여 거의 자동으로 이뤄진다.
  • Process Flow
  • 장비소개
Test 공정
Wafer Process공정이나 Assembly공정 등 제조과정에서의 결함을 대형 컴퓨터를 이용하여 반도체 Chip(IC)의 전기적 동작 기능을 검사하여 양품과 불량품을 선별하는 공정